Russian Chinese (Simplified) English German

Публикация научных работ

Тел.: +7(915)814-09-51(WhatsApp) E-mail: info@p8n.ru

publication foto Журнал «Проблемы современной науки и образования» выходит ежемесячно, 6 числа (уточняется в месяц выхода). Следующий номер журнала № 1(200) 2025 г. Выйдет - 14.01.2025 г. Статьи принимаются до 10.01.2025 г.

Если Вы хотите напечататься в ближайшем номере, не откладывайте отправку заявки.

Потратьте одну минуту, заполните и отправьте заявку в Редакцию.




Физико-математические науки

Факторы, ограничивающие применимость модели однократного резерфордовского обратного рассеяния ионов: двукратное рассеяние ионов

Кибардин Алексей Владимирович / Kibardin Alexey Vladimirovich  - кандидат физико-математических наук, доцент,
кафедра вычислительной техники, физико-технологический институт,
Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина, г. Екатеринбург

Аннотация: в работе рассматриваются вопросы численного моделирования факторов, влияющих на формирование спектров резерфордовского обратного рассеяния ионов в тонких пленках: двукратного рассеяния ионов в мишенях.
Abstract: the work deals with the numerical modeling of factors influencing the formation of the Rutherford backscattering spectra of ions in thin films: double scattering of ions in targets.

Ключевые слова: тонкие пленки, ионы, состав ионного пучка, упругое рассеяние, энергетические спектры, аппаратная функция, математическое моделирование.
Keywords: thin films, ions, composition of the ion beam, elastic scattering, the energy spectra, the instrumental function, mathematical modeling.

Литература

1.    Тонкие пленки. Взаимная диффузия и реакции. Под редакцией Поута Дж., Ту К., Мейера Дж. М.: Мир. 1982. 576 с.
2.    Chu W.K., Mayer J.W., Nicolet M.A. Backscattering spectromety. N.-Y.:Academic Press. 1978. 384 p.
3.    Кибардин А.В. Изменение профилей концентрации атомов в тонкопленочных структурах Me-Si при тепловом и радиационном воздействиях: Дисс. канд. физ.- мат. наук. Екатеринбург: УГТУ. 1996.
4.    Кибардин А.В. Численное моделирование спектров резерфордовского обратного рассеяния ионов от многослойных многокомпонентных мишеней. Проблемы современной науки и образования. 2016. №1(43). С.30-34.
5.    Кибардин А.В. Исследования факторов, ограничивающих применимость модели однократного резерфордовского обратного рассеяния ионов: учет состава исходного пучка  частиц. Проблемы современной науки и образования. 2016. №2 (44). С.10-13.
6.    Weber A., Mommsem H., Sarter W., Weller A. Double scattering in Rutherford backscattering spectra. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research.1982. V. 198, p.527-533.
7.    Бажуков С.И., Кибардин А.В., Пузанов А.А., Пяткова Т.М. Двукратное рассеяние протонов от самоподдерживающейся пленки. Поверхность: физика, химия, механика. 1988. №5. С.42-45.
8.    Машкова Е.С., Молчанов А.А. Рассеяние ионов средних энергий поверхностями твердых тел. М.., 1980. 256 с.

Publication of scientific papers

Поделитесь данной статьей, повысьте свой научный статус в социальных сетях

        
  
  

Старый сайт

oldsite Старая версия сайта >>>

Рейтинг@Mail.ru
Яндекс.Метрика
Импакт-фактор российских научных журналов
 

Контакты

  • Адрес: 153008, Россия, г. Иваново, ул. Лежневская, д. 55, 4 этаж. Время работы: с 10-00 до 18-00. Кроме выходных.
  • Tel: +7(915)814-09-51 (МТС)
  • Fax: +7(961)245-79-19(Билайн)
  • Email:
  • Website: http://www.ipi1.ru/
  • Вконтакте: http://vk.com/scienceproblems
Вы здесь: Главная Статьи 01.00.00 Физико-математические науки Факторы, ограничивающие применимость модели однократного резерфордовского обратного рассеяния ионов: двукратное рассеяние ионов